Using modeling techniques to improve information opportunities flaw method detection for heterogeneous materials, based on the phenomenon of mechanoelectrical transformations

Chi tiết về thư mục
Parent link:Современные техника и технологии: сборник трудов XX международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Томск, 14-18 апреля 2014 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2014
Т. 3.— 2014.— [С. 68-69]
Tác giả chính: Utsyn G. E. Grigoriy Evgenievich
Tác giả của công ty: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)
Tác giả khác: Fursa T. V. Tatyana Viktorovna (727)
Tóm tắt:Заглавие с титульного экрана
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: 2014
Loạt:Физические методы в науке и технике
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20886
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C01/V3/032.pdf
Định dạng: Điện tử Chương của sách
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=607204

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 607204
005 20231101132436.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\conf\4585 
035 |a RU\TPU\conf\4584 
090 |a 607204 
100 |a 20140704d2014 k y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a RU 
105 |a y z 101zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Using modeling techniques to improve information opportunities flaw method detection for heterogeneous materials, based on the phenomenon of mechanoelectrical transformations  |f G. E. Utsyn, T. V. Fursa  |g sci. adv. T. V. Fursa 
203 |a Текст  |c электронный 
225 1 |a Физические методы в науке и технике 
230 |a 1 компьютерный файл (pdf; 274 Kb) 
300 |a Заглавие с титульного экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 69 (7 назв.)] 
337 |a Adobe Reader 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\3687  |t Современные техника и технологии  |o сборник трудов XX международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Томск, 14-18 апреля 2014 г.  |o в 3 т.  |f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)   |d 2014 
463 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\conf\3691  |t Т. 3  |v [С. 68-69]  |d 2014 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a электронный ресурс 
700 1 |a Utsyn  |b G. E.  |c specialist in the field of electrical engineering  |c Engineer-researcher of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences  |f 1982-  |g Grigoriy Evgenievich  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32196 
701 1 |a Fursa  |b T. V.  |c specialist in the field of non-destructive testing  |c Leading researcher of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences  |f 1951-  |g Tatyana Viktorovna  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32190 
702 1 |a Fursa  |b T. V.  |c specialist in the field of non-destructive testing  |c Leading researcher of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences  |f 1951-  |g Tatyana Viktorovna  |2 stltpush  |4 727 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)  |h 194  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19033 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20210312  |g RCR 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20886 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C01/V3/032.pdf 
942 |c BK