О методах оценки надежности полупроводниковых устройств силовой электротехники; Современные техника и технологии; Т. 1

О методах оценки надежности полупроводниковых устройств силовой электротехники; Современные техника и технологии; Т. 1

Bibliographic Details
Parent link:Современные техника и технологии: сборник трудов XX международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Томск, 14-18 апреля 2014 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2014
Т. 1.— 2014.— [С. 25-26]
Main Author: Кравченко Е. В. Евгений Владимирович
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Энергетический институт (ЭНИН) Кафедра автоматизации теплоэнергетических процессов (АТП)
Summary:Заглавие с титульного экрана
Language:Russian
Published: 2014
Series:Электроэнергетика
Subjects:
труды учёных ТПУ
электронный ресурс
полупроводниковые устройства
электротехника
электроэнергетика
преобразования
диоды
тиристоры
Online Access:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20751
http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C01/V1/011.pdf
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=606461

Similar Items

Similar Items