Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1

Podrobná bibliografie
Parent link:Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность: сборник трудов III Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 27-31 мая 2013 г./ Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2013
Т. 1.— 2013.— [С. 129-132]
Hlavní autor: Жгилев С. В.
Korporativní autor: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра информационно-измерительной техники (ИИТ)
Další autoři: Ширяев В. В. Владимир Васильевич (научный руководитель)
Shrnutí:Заглавие с титульного экрана
Jazyk:ruština
Vydáno: 2013
Edice:Современные системы и технологии в неразрушающем контроле
Témata:
On-line přístup:http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2013/C36/V1/037.pdf
Médium: MixedMaterials Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=603332
Popis
Shrnutí:Заглавие с титульного экрана