Жгилев С. В. & Ширяев В. В. Владимир Васильевич. (2013). Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1. 2013.
Citação norma ChicagoЖгилев С. В. and Ширяев В. В. Владимир Васильевич. Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1. 2013, 2013.
Citação norma MLAЖгилев С. В. and Ширяев В. В. Владимир Васильевич. Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1. 2013, 2013.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.