Жгилев С. В. & Ширяев В. В. Владимир Васильевич. (2013). Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1. 2013.
Chicago Style (17th ed.) CitationЖгилев С. В. and Ширяев В. В. Владимир Васильевич. Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1. 2013, 2013.
MLA (9th ed.) CitationЖгилев С. В. and Ширяев В. В. Владимир Васильевич. Микропроцессорный измеритель коэффициента температуропроводности материалов; Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность; Т. 1. 2013, 2013.
Advarsel: Disse citationer er muligvist ikke 100% nøjagtige.