Measurements of Thickness Dependence of Parametric X-Radiation from Si: preprint Hiroshima University HUPD-9319

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Hiroshima University
Outros autores: Endo I., Harada M., Kobayashi T., Lee Y. S., Takahashi T., Muto M., Yoshida K., Nitta H., Potylitsyn A. P. Alexander Petrovich, Zabaev V. N. Viktor Nikolaevich
Summary:В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Idioma:inglés
Publicado: Hiroshima, 1993
Subjects:
Formato: MixedMaterials Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=600418