Measurements of Thickness Dependence of Parametric X-Radiation from Si: preprint Hiroshima University HUPD-9319

Opis bibliograficzny
Korporacja: Hiroshima University
Kolejni autorzy: Endo I., Harada M., Kobayashi T., Lee Y. S., Takahashi T., Muto M., Yoshida K., Nitta H., Potylitsyn A. P. Alexander Petrovich, Zabaev V. N. Viktor Nikolaevich
Streszczenie:В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Język:angielski
Wydane: Hiroshima, 1993
Hasła przedmiotowe:
Format: Książka
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=600418

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 600418
005 20240218121059.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\tpu\24846 
035 |a RU\TPU\tpu\24845 
090 |a 600418 
100 |a 20140328d1993 m y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a JP 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Measurements of Thickness Dependence of Parametric X-Radiation from Si  |e preprint Hiroshima University HUPD-9319  |f I. Endo [et al.]  |g Hiroshima University 
210 |a Hiroshima  |d 1993 
215 |a 15 p. 
333 |a В фонде НТБ ТПУ отсутствует 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a препринты 
701 1 |a Endo  |b I. 
701 1 |a Harada  |b M. 
701 1 |a Kobayashi  |b T. 
701 1 |a Lee  |b Y. S. 
701 1 |a Takahashi  |b T. 
701 1 |a Muto  |b M. 
701 1 |a Yoshida  |b K. 
701 1 |a Nitta  |b H. 
701 1 |a Potylitsyn  |b A. P.  |c Russian physicist  |c Professor of the TPU  |f 1945-  |g Alexander Petrovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26306  |9 12068 
701 1 |a Zabaev  |b V. N.  |c physicist  |c associate professor of Tomsk Polytechnic University  |f 1946-  |g Viktor Nikolaevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31534 
712 0 2 |a Hiroshima University  |c Japan 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140225 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20140328  |g RCR 
942 |c BK