Моделирование развития разрядного канала в твердых диэлектриках; Математические модели и методы их исследования; Т. 2

Моделирование развития разрядного канала в твердых диэлектриках; Математические модели и методы их исследования; Т. 2

Bibliographic Details
Parent link:Математические модели и методы их исследования: труды международной конференции, Красноярск, 16-21 августа 2001 г. : в 2 т./ под ред. В. К. Андреева, Ю. В. Штанько.— , 2001
Т. 2.— 2001.— С. 69-73
Other Authors: Лопатин В. В. Владимир Васильевич, Носков М. Д. Михаил Дмитриевич, Чеглоков А. А., Шаповалов А. В. Александр Васильевич
Summary:При помощи компьютерного моделирования исследуется развитие электротепловой неустойчивости при приложении постоянного внешнего напряжения в диэлектрике с характерными для термостойких полимерных изоляторов параметрами. Целью работы является выяснение возможности распространения высокопроводящего канала в результате развития электротепловой неустойчивости.
В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Language:Russian
Published: 2001
Subjects:
труды учёных ТПУ
Format: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=600294

Similar Items

Similar Items