Моделирование развития разрядного канала в твердых диэлектриках; Математические модели и методы их исследования; Т. 2
| Parent link: | Математические модели и методы их исследования: труды международной конференции, Красноярск, 16-21 августа 2001 г. : в 2 т./ под ред. В. К. Андреева, Ю. В. Штанько.— , 2001 Т. 2.— 2001.— С. 69-73 |
|---|---|
| Outros Autores: | , , , |
| Resumo: | При помощи компьютерного моделирования исследуется развитие электротепловой неустойчивости при приложении постоянного внешнего напряжения в диэлектрике с характерными для термостойких полимерных изоляторов параметрами. Целью работы является выяснение возможности распространения высокопроводящего канала в результате развития электротепловой неустойчивости. В фонде НТБ ТПУ отсутствует |
| Idioma: | russo |
| Publicado em: |
2001
|
| Assuntos: | |
| Formato: | Capítulo de Livro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=600294 |