Контроль и техническое диагностирование сложных электротехнических и электромеханических устройств по их ваттметрограммам, фазовым кривым и спектральным портретам; Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.; Т. 2

書目詳細資料
Parent link:Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.: тезисы докладов.— , 1999
Т. 2.— 1999.— С. 149-151
主要作者: Гольдштейн Е. И. Ефрем Иосифович
其他作者: Кравченко Д. А., Цапко И. В. Ирина Валериевна
總結:Применительно к задачам контроля и диагностирования по спектральным портретам авторами развиты известные методы спектрального анализа по мгновенной спектральной плотности. Описываются различные программно-аппаратные комплексы, реализующие результаты проведенных исследований и частично уже внедренные в России. Предлагаются, для обсуждения и уточнения, пути развития выявленных возможностей энергетического принципа контроля и диагностирования сложных эл-мех. систем.
В фонде НТБ ТПУ отсутствует
語言:俄语
出版: 1999
主題:
格式: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=599580

相似書籍