Контроль и техническое диагностирование сложных электротехнических и электромеханических устройств по их ваттметрограммам, фазовым кривым и спектральным портретам; Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.; Т. 2

Контроль и техническое диагностирование сложных электротехнических и электромеханических устройств по их ваттметрограммам, фазовым кривым и спектральным портретам; Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.; Т. 2

Bibliographische Detailangaben
Parent link:Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.: тезисы докладов.— , 1999
Т. 2.— 1999.— С. 149-151
1. Verfasser: Гольдштейн Е. И. Ефрем Иосифович
Weitere Verfasser: Кравченко Д. А., Цапко И. В. Ирина Валериевна
Zusammenfassung:Применительно к задачам контроля и диагностирования по спектральным портретам авторами развиты известные методы спектрального анализа по мгновенной спектральной плотности. Описываются различные программно-аппаратные комплексы, реализующие результаты проведенных исследований и частично уже внедренные в России. Предлагаются, для обсуждения и уточнения, пути развития выявленных возможностей энергетического принципа контроля и диагностирования сложных эл-мех. систем.
В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: 1999
Schlagworte:
труды учёных ТПУ
Format: Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=599580

Ähnliche Einträge

Ähnliche Einträge