Контроль и техническое диагностирование сложных электротехнических и электромеханических устройств по их ваттметрограммам, фазовым кривым и спектральным портретам; Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.; Т. 2
| Parent link: | Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.: тезисы докладов.— , 1999 Т. 2.— 1999.— С. 149-151 |
|---|---|
| Autor principal: | |
| Outros Autores: | , |
| Resumo: | Применительно к задачам контроля и диагностирования по спектральным портретам авторами развиты известные методы спектрального анализа по мгновенной спектральной плотности. Описываются различные программно-аппаратные комплексы, реализующие результаты проведенных исследований и частично уже внедренные в России. Предлагаются, для обсуждения и уточнения, пути развития выявленных возможностей энергетического принципа контроля и диагностирования сложных эл-мех. систем. В фонде НТБ ТПУ отсутствует |
| Idioma: | russo |
| Publicado em: |
1999
|
| Assuntos: | |
| Formato: | MixedMaterials Capítulo de Livro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=599580 |