Контроль и техническое диагностирование сложных электротехнических и электромеханических устройств по их ваттметрограммам, фазовым кривым и спектральным портретам; Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.; Т. 2
| Parent link: | Международная конференция по проблемам управления, Москва, 29 июня - 2 июля 1999 г.: тезисы докладов.— , 1999 Т. 2.— 1999.— С. 149-151 |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | |
| অন্যান্য লেখক: | , |
| সংক্ষিপ্ত: | Применительно к задачам контроля и диагностирования по спектральным портретам авторами развиты известные методы спектрального анализа по мгновенной спектральной плотности. Описываются различные программно-аппаратные комплексы, реализующие результаты проведенных исследований и частично уже внедренные в России. Предлагаются, для обсуждения и уточнения, пути развития выявленных возможностей энергетического принципа контроля и диагностирования сложных эл-мех. систем. В фонде НТБ ТПУ отсутствует |
| ভাষা: | রুশ |
| প্রকাশিত: |
1999
|
| বিষয়গুলি: | |
| বিন্যাস: | গ্রন্থের অধ্যায় |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=599580 |