• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Geavanceerd
  • Способ обработки полупроводник...
  • Citeren
  • SMS dit
  • Versturen
  • Afdrukken
  • Exporteer Record
    • Exporteer naar RefWorks
    • Exporteer naar EndNoteWeb
    • Exporteer naar EndNote
  • Permalink
Способ обработки полупроводниковых детекторов

Способ обработки полупроводниковых детекторов

Bibliografische gegevens
Coauteur: Томский политехнический институт (ТПИ) Научно-исследовательский институт ядерной физики, электроники и автоматики (НИИ ЯФЭА)
Andere auteurs: Арефьев К. П. Константин Петрович, Арефьев В. П. Владимир Петрович, Воробьев С. А. Сергей Александрович, Мамонтов А. П. Аркадий Павлович, Сохорева В. В. Валентина Викторовна, Чернов И. П. Иван Петрович
Samenvatting:опубл. 30.04.80, Бюл. ОИПОТЗ № 16
В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Taal:Russisch
Gepubliceerd in:
Onderwerpen:
труды учёных ТПУ
авторские свидетельства
Formaat: Boek
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=598342
  • Exemplaren
  • Omschrijving
  • Gelijkaardige items
  • Personeel

Gelijkaardige items

  • Способ обработки ионных кристаллов
    Gepubliceerd in: ()
  • Способ получения формальдегида
    Gepubliceerd in: ()
  • Способ получения никеля сернокислого
    Gepubliceerd in: ()
  • Способ получения м-хлордифенилметилмочевины
    Gepubliceerd in: ()
  • Способ контроля состояния изоляции
    Gepubliceerd in: ()