• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avanzado
  • Способ обработки полупроводник...
  • Citar
  • Describir
  • Enviar este por Correo electrónico
  • Imprimir
  • Exportar Registro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enlace Permanente
Способ обработки полупроводниковых детекторов

Способ обработки полупроводниковых детекторов

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Томский политехнический институт (ТПИ) Научно-исследовательский институт ядерной физики, электроники и автоматики (НИИ ЯФЭА)
Otros Autores: Арефьев К. П. Константин Петрович, Арефьев В. П. Владимир Петрович, Воробьев С. А. Сергей Александрович, Мамонтов А. П. Аркадий Павлович, Сохорева В. В. Валентина Викторовна, Чернов И. П. Иван Петрович
Sumario:опубл. 30.04.80, Бюл. ОИПОТЗ № 16
В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Lenguaje:ruso
Publicado:
Materias:
труды учёных ТПУ
авторские свидетельства
Formato: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=598342
  • Existencias
  • Descripción
  • Ejemplares similares
  • Vista Equipo

Ejemplares similares

  • Способ обработки ионных кристаллов
    Publicado: ()
  • Способ получения формальдегида
    Publicado: ()
  • Способ контроля состояния изоляции
    Publicado: ()
  • Способ получения никеля сернокислого
    Publicado: ()
  • Способ получения м-хлордифенилметилмочевины
    Publicado: ()