• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Napredno
  • Способ обработки полупроводник...
  • Citiraj
  • Pošljite SMS
  • Pošljite email
  • Natisni
  • Izvozi zadetek
    • Izvozi v RefWorks
    • Izvozi v EndNoteWeb
    • Izvozi v EndNote
  • Permanent link
Exportación Completada — 
Способ обработки полупроводниковых детекторов

Способ обработки полупроводниковых детекторов

Bibliografske podrobnosti
Korporativna značnica: Томский политехнический институт (ТПИ) Научно-исследовательский институт ядерной физики, электроники и автоматики (НИИ ЯФЭА)
Drugi avtorji: Арефьев К. П. Константин Петрович, Арефьев В. П. Владимир Петрович, Воробьев С. А. Сергей Александрович, Мамонтов А. П. Аркадий Павлович, Сохорева В. В. Валентина Викторовна, Чернов И. П. Иван Петрович
Izvleček:опубл. 30.04.80, Бюл. ОИПОТЗ № 16
В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Jezik:ruščina
Izdano:
Teme:
труды учёных ТПУ
авторские свидетельства
Format: Knjiga
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=598342
  • Zaloga
  • Opis
  • Podobne knjige/članki
  • Knjižničarski pogled

Podobne knjige/članki

  • Способ обработки ионных кристаллов
    Izdano: ()
  • Способ получения формальдегида
    Izdano: ()
  • Способ получения никеля сернокислого
    Izdano: ()
  • Способ получения м-хлордифенилметилмочевины
    Izdano: ()
  • Способ контроля состояния изоляции
    Izdano: ()