• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Pokročilé
  • Способ обработки полупроводник...
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
Esportazione completata correttamente — 
Способ обработки полупроводниковых детекторов

Способ обработки полупроводниковых детекторов

Podrobná bibliografie
Korporativní autor: Томский политехнический институт (ТПИ) Научно-исследовательский институт ядерной физики, электроники и автоматики (НИИ ЯФЭА)
Další autoři: Арефьев К. П. Константин Петрович, Арефьев В. П. Владимир Петрович, Воробьев С. А. Сергей Александрович, Мамонтов А. П. Аркадий Павлович, Сохорева В. В. Валентина Викторовна, Чернов И. П. Иван Петрович
Shrnutí:опубл. 30.04.80, Бюл. ОИПОТЗ № 16
В фонде НТБ ТПУ отсутствует
Jazyk:ruština
Vydáno:
Témata:
труды учёных ТПУ
авторские свидетельства
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=598342
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC

Podobné jednotky

  • Способ обработки ионных кристаллов
    Vydáno: ()
  • Способ получения формальдегида
    Vydáno: ()
  • Способ получения м-хлордифенилметилмочевины
    Vydáno: ()
  • Способ получения никеля сернокислого
    Vydáno: ()
  • Способ контроля состояния изоляции
    Vydáno: ()