Изучение тонких пленок GeO методом позитронной аннигиляции; Физика и техника полупроводников; Т. 8, вып. 6

מידע ביבליוגרפי
Parent link:	Физика и техника полупроводников: научный журнал/ Российская Академия наук.— , 1967- Т. 8, вып. 6.— 1974.— С. 1223-1224
מחבר ראשי:	Арефьев К. П. Константин Петрович
מחברים אחרים:	Воробьев С. А. Сергей Александрович, Стародубов В. Г.
שפה:	רוסית
יצא לאור:	1974
נושאים:	труды учёных ТПУ
פורמט:	Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=598307

פריטים דומים