Lebedev S.M, Gefle O.S, Pokholkov Y. P. Yuri Petrovich, & Chichikin V.I. (1999). The breakdown strength of two-layer dielectrics. 1999.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Lebedev S.M, Gefle O.S, Pokholkov Y. P. Yuri Petrovich, i Chichikin V.I. The Breakdown Strength of Two-layer Dielectrics. 1999, 1999.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Lebedev S.M, et al. The Breakdown Strength of Two-layer Dielectrics. 1999, 1999.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..