Киселев В. Г. & Овчаров А. Т. (1988). Эффективность дефектообразования в стеклообразном [SiO2] при Уф-воздействии; Шестая Всесоюзная конференция по физики диэлектриков. 1988.

Киселев В. Г. and Овчаров А. Т. Эффективность дефектообразования в стеклообразном [SiO2] при Уф-воздействии; Шестая Всесоюзная конференция по физики диэлектриков. 1988, 1988.

Киселев В. Г. and Овчаров А. Т. Эффективность дефектообразования в стеклообразном [SiO2] при Уф-воздействии; Шестая Всесоюзная конференция по физики диэлектриков. 1988, 1988.