Анализ высокочистых веществ, слоев кристаллов и пленок методом инверсионной вольтамперометрии; Материалы научно-практической конференции, посвященной 85-летию ХТФ (Томск, 21-23 мая 1985 г.)

Анализ высокочистых веществ, слоев кристаллов и пленок методом инверсионной вольтамперометрии

Detalles Bibliográficos
Parent link:Материалы научно-практической конференции, посвященной 85-летию ХТФ (Томск, 21-23 мая 1985 г.).— 1985.— С. 2-5
Autor Principal: Каплин А. А. Анатолий Александрович
Outros autores: Пикула Н. П. Нина Павловна
Summary:Деп. в ОНИИТЭХим г. Черкассы 14.06.85, № 594-ХП-85.
Idioma:ruso
Publicado: 1985
Subjects:
труды учёных ТПУ
Formato: Capítulo de libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=594464
Descripción
Summary:Деп. в ОНИИТЭХим г. Черкассы 14.06.85, № 594-ХП-85.

Títulos similares