Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Кочубей В.
Gaia:Рассмотрены основные закономерности формирования структуры и оптических характеристик примесных центров люминесценции в кристаллофосфорах на основе щелочно-галоидных кристаллов. Ввиду простоты структуры щелочно-галоидных кристаллов они являются удобным модельным объектом для демонстрации указанных закономерностей, а также для применения экспериментальных и теоретических методов изучения структуры примесных дефектов и формирования спектров поглощения и излучения света такими дефектами. Полученные закономерности легко распространяются и на другие кристаллофосфоры. Описано применение методов EXAFS- и XEOL-спектроскопии для исследования локальной структуры примесных дефектов в кристаллофосфорах. Данные методы позволяют получать структурную информацию, недоступную для других методов исследования. Для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела, радиационной физики, физики люминофоров.
Книга из коллекции ФИЗМАТЛИТ - Физика
Argitaratua: Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2006
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:https://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=59430
https://e.lanbook.com/img/cover/book/59430.jpg
Formatua: Baliabide elektronikoa Liburua

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 i 4500
001 59430
010 |a 5-9221-0702-X 
100 |a 20200604d2006 k y0rusy01020304ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y j 000zy 
106 |a z 
200 1 |a Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах  |b Электронный ресурс  |f Кочубей В. 
210 |a Москва  |b Москва  |c ФИЗМАТЛИТ  |d 2006 
215 |a 192 с. 
330 |a Рассмотрены основные закономерности формирования структуры и оптических характеристик примесных центров люминесценции в кристаллофосфорах на основе щелочно-галоидных кристаллов. Ввиду простоты структуры щелочно-галоидных кристаллов они являются удобным модельным объектом для демонстрации указанных закономерностей, а также для применения экспериментальных и теоретических методов изучения структуры примесных дефектов и формирования спектров поглощения и излучения света такими дефектами. Полученные закономерности легко распространяются и на другие кристаллофосфоры. Описано применение методов EXAFS- и XEOL-спектроскопии для исследования локальной структуры примесных дефектов в кристаллофосфорах. Данные методы позволяют получать структурную информацию, недоступную для других методов исследования. Для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела, радиационной физики, физики люминофоров. 
333 |a Книга из коллекции ФИЗМАТЛИТ - Физика 
610 0 |a exafs-спектроскопия 
610 0 |a рентгеновская микроскопия 
610 0 |a люминесценция 
610 0 |a физика 
610 0 |a оптика 
610 0 |a дефекты кристаллов 
610 0 |a щелочно-галоидные кристаллы 
610 0 |a центры люминесценции 
610 0 |a кристаллофосфор 
610 0 |a кристаллофосфоры 
610 0 |a кристаллофосфоры дефекты 
610 0 |a люминесценция в кристаллах 
610 0 |a люминофоры 
610 0 |a радиационная физика 
610 0 |a ртутеподобные ионы с примесью 
610 0 |a спектроскопия 
610 0 |a физика люминофоров 
610 0 |a чистые кристаллы дефекты 
610 0 |a щелочно-галоидный кристалл 
675 |a 535.37 
686 |a 22.345  |2 rubbk 
700 1 |a Кочубей  |b В. 
801 1 |a RU  |b Издательство Лань  |c 20200604  |g RCR 
856 4 |u https://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=59430 
856 4 1 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/59430.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/59430.jpg