Telefona gönder: Теоретическое определение наименьшего выявляемого размера дефекта при просвечивании материалов тормозным излучением бетатронов в зависимости от параметров излучения, параметров контролируемого объекта и чувствительности регистрирующего прибора; Тезисы докладов на пятой Межвузовской научной конференции по электронным ускорителям (17-21 марта 1964 г.)