Промышленный бетатрон для целей дефектоскопии типа Б-2510; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий

Eitemau Tebyg

• Об одной возможности дефектоскопии сложных изделий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  gan: Горбунов В. И.
  Cyhoeddwyd: (1966)
• К вопросу выбора нормального ряда бетатронов для целей дефектоскопии материалов различной толщины; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  Cyhoeddwyd: (1966)
• Бетатрон на энергию 35 Мэв для контроля горячего раската; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  Cyhoeddwyd: (1966)
• Дальнейшее развитие сцинтилляционного метода изотопной дефектоскопии материалов и изделий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  gan: Горбунов В. И.
  Cyhoeddwyd: (1966)
• Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  gan: Ананьев Л. М.
  Cyhoeddwyd: (1966)