К вопросу выбора нормального ряда бетатронов для целей дефектоскопии материалов различной толщины; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий

類似資料

• Промышленный бетатрон для целей дефектоскопии типа Б-2510; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  出版事項: (1966)
• Об одной возможности дефектоскопии сложных изделий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  著者:: Горбунов В. И.
  出版事項: (1966)
• Дальнейшее развитие сцинтилляционного метода изотопной дефектоскопии материалов и изделий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  著者:: Горбунов В. И.
  出版事項: (1966)
• Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  著者:: Ананьев Л. М.
  出版事項: (1966)
• Исследование переноса тормозного излучения бетатрона; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
  著者:: Горбунов В. И.
  出版事項: (1966)