Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий

Manylion Llyfryddiaeth
Parent link:Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий.— 1966.— С. 19
Prif Awdur: Ананьев Л. М.
Awduron Eraill: Штейн М. М.
Iaith:Rwseg
Cyhoeddwyd: 1966
Pynciau:
Fformat: Pennod Llyfr
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=592665

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 592665
005 20250829142928.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\tpu\5007 
090 |a 592665 
100 |a 20011210d1966 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии  |f Л. М. Ананьев, М. М. Штейн 
463 1 |t Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий  |v С. 19  |o тезисы докладов (25-29 октября 1966 г.)  |d 1966 
610 1 |a электроника 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a полупроводниковая электроника 
610 1 |a рентгенотехника 
610 1 |a ускорители 
700 1 |a Ананьев  |b Л. М. 
701 1 |a Штейн  |b М. М. 
801 0 |a RU  |b 63413507  |c 20011210  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20080219  |g PSBO 
942 |c BK