Ананьев Л. М. & Штейн М. М. (1966). Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий. 1966.
Chicago Style (17th ed.) CitationАнаньев Л. М. and Штейн М. М. Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий. 1966, 1966.
MLA (9th ed.) CitationАнаньев Л. М. and Штейн М. М. Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий. 1966, 1966.