Ананьев Л. М. & Штейн М. М. (1966). Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии. 1966.
Chicago Style (17th ed.) CitationАнаньев Л. М. and Штейн М. М. Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии. 1966, 1966.
MLA (9th ed.) CitationАнаньев Л. М. and Штейн М. М. Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии. 1966, 1966.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.