Акимов Ю. М., Бердоносов В. А., Булаев О. Ф., Воробьев А. А. Александр Акимович, Горбунов В. И., Куницын Г. А., . . . Янисов В. В. (1966). Разработка комплексных бетатронных дефектоскопов в НИИ электронной интроскопии для промышленных предприятий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий. 1966.
Style de citation Chicago (17e éd.)Акимов Ю. М., et al. Разработка комплексных бетатронных дефектоскопов в НИИ электронной интроскопии для промышленных предприятий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий. 1966, 1966.
Style de citation MLA (9e éd.)Акимов Ю. М., et al. Разработка комплексных бетатронных дефектоскопов в НИИ электронной интроскопии для промышленных предприятий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий. 1966, 1966.