Высокочувствительный сорбционно-фотометрический метод определения следов железа в некоторых объектах производства люминофоров; Тезисы докладов совещания по аналитической химии полупроводниковых веществ (11-15 ноября 1965 г.)

Podrobná bibliografie
Parent link:Тезисы докладов совещания по аналитической химии полупроводниковых веществ (11-15 ноября 1965 г.).— 1965.— С. 19-20
Hlavní autor: Глуховская Р. Д.
Další autoři: Лельчук Ю. Л.
Jazyk:ruština
Vydáno: 1965
Témata:
Médium: xMaterials Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=591210

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 591210
005 20250822152312.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\tpu\1277 
035 |a TPU00001277 
090 |a 591210 
100 |a 20011210d1965 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Высокочувствительный сорбционно-фотометрический метод определения следов железа в некоторых объектах производства люминофоров  |f Р. Д. Глуховская, Ю. Л. Лельчук 
463 1 |t Тезисы докладов совещания по аналитической химии полупроводниковых веществ (11-15 ноября 1965 г.)  |v С. 19-20  |d 1965 
610 1 |a химические науки 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
700 1 |a Глуховская  |b Р. Д. 
701 1 |a Лельчук  |b Ю. Л. 
801 0 |a RU  |b 63413507  |c 20011210  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20051108  |g PSBO 
942 |c BK