Исследование потерь импульсного электронного пучка при формировании и выводе из диодной камеры ускорителя

Исследование потерь импульсного электронного пучка при формировании и выводе из диодной камеры ускорителя

Bibliographische Detailangaben
Parent link:Приборы и техника эксперимента/ Российская академия наук (РАН).— , 1956-.— 0032-8162
№ 5.— 2007.— С. 117-124
1. Verfasser: Пушкарёв А. И. Александр Иванович
Weitere Verfasser: Новоселов Ю. Н., Сазонов Р. В. Роман Владимирович
Zusammenfassung:Приведены результаты экспериментального исследования баланса тока и заряда в диодном узле сильноточного импульсного электронного ускорителя ТЭУ-500 (ускоряющее напряжение 350?500 кэВ, длительность импульса на полувысоте 60 нс, суммарная кинетическая энергия электронов 250 Дж в импульсе) при генерации электронного пучка. Исследованы планарные диоды с многоострийным катодом и с катодами диаметром от 43 до 60 мм из графита, меди и углеродной ткани. Показано, что основным источником паразитных потерь в планарном диоде является расхождение пучка электронов в зазоре анод?катод, вызванное искажением электрического поля на периферии катода. Половинный угол расхождения составляет 68° при малых зазорах анод?катод и уменьшается до 60° с увеличением зазора. При согласовании импеданса диода и выходного сопротивления генератора (зазор 10?12 мм) потери заряда не превышают 12%.
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: 2007
Schriftenreihe:Общая экспериментальная техника
Schlagworte:
диоды
электронный пучок
экспериментальные исследования
Format: Buchkapitel
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=570884

Ähnliche Einträge

Ähnliche Einträge