• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avanzata
  • Измерение параметров полупрово...
  • Citazione
  • Invia SMS
  • Invia email
  • Stampa
  • Esporta il record
    • Esporta a RefWorks
    • Esporta a EndNoteWeb
    • Esporta a EndNote
  • PLink permanente
Измерение параметров полупроводников материалов и структур

Измерение параметров полупроводников материалов и структур

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Батавин В. В. Виталий Васильевич
Altri autori: Концевой Ю. А. Юлий Абрамович, Федорович Ю. В. Юрий Вячеславович
Lingua:russo
Pubblicazione: Москва, Радио и связь, 1985
Serie:Измерения в электронике
Soggetti:
параметры
полупроводники
структура
полупроводниковые материалы
электрофизика
реализация
удельное сопротивление
заряды
пластины
измерения
Natura: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=56509
  • Posseduto
  • Descrizione
  • Documenti analoghi
  • MARC21
Descrizione
Descrizione fisica:264 с. ил.

Documenti analoghi

  • Методы измерения параметров полупроводниковых материалов: учебник
    di: Павлов Л. П. Лев Павлович
    Pubblicazione: (Москва, Высшая школа, 1987)
  • Измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в тонких пластинах полупроводниковых кристаллов; Приборы и техника эксперимента; № 2
    di: Болесов И. А.
    Pubblicazione: (2003)
  • Измерение сопротивления контактов металл-полупроводник и контроль удельного сопротивления полупроводниковых пленок; Известия вузов. Физика; Т. 46, № 7
    di: Филлипов В. В.
    Pubblicazione: (2003)
  • Бесконтактное измерение распределения удельного сопротивления кремния на сверхвысоких частотах; Современные техника и технологии; Т. 1
    di: Нгуен Хай Чунг
    Pubblicazione: (2009)
  • Измерение слабых токов, зарядов и больших сопротивлений
    di: Грибанов Ю. И. Юрий Иванович
    Pubblicazione: (Москва, Госэнергоиздат, 1962)