• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Wyszukiwanie zaawansowane
  • Электрические явления в тонких...
  • Cytować
  • Wyślij wiadomość
  • Wyślij emailem
  • Drukuj
  • Eksportuj rekord
    • Eksportuj do RefWorks
    • Eksportuj do EndNoteWeb
    • Eksportuj do EndNote
  • Odnośnik bezpośredni
Электрические явления в тонких пленках: Избранные главы из книги "Thin film phenomena"; пер. с англ.

Электрические явления в тонких пленках: Избранные главы из книги "Thin film phenomena"; пер. с англ.

Opis bibliograficzny
1. autor: Чопра К. Л.
Kolejni autorzy: Шермергора Т. Д. (редактор)
Język:rosyjski
Wydane: Москва, Мир, 1972
Hasła przedmiotowe:
тонкие пленки
электрические свойства
рост
перенос
сверхпроводимость
диэлектрики
зародышеобразование
полупроводниковые пленки
металлические пленки
структура
Format: Książka
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=56309
  • Egzemplarz
  • Opis
  • Podobne zapisy
  • Wersja MARC

Podobne zapisy

  • Массоперенос в тонких пленках
    od: Колешко В. М. Владимир Михайлович
    Wydane: (Минск, Наука и техника, 1980)
  • Структурные превращения в тонких пленках
    od: Иевлев В. М. Валентин Михайлович
    Wydane: (Москва, Металлургия, 1982)
  • Selective deposition of polycrystalline diamond films using photolithography with addition of nanodiamonds as nucleation centers; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 116 : Advanced Materials and New Technologies in Modern Materials Science
    Wydane: (2016)
  • Методика определения распределения диаметров пор в тонких металлических плёнках; Приборы и техника эксперимента; № 1
    od: Четвериков Н. И.
    Wydane: (2003)
  • Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis
    od: Feldman L. C. Leonard
    Wydane: (New York, North-Holland, 1986)