Bibliographic Details
| Parent link: | Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования/ Российская академия наук (РАН) ; Отделение физических наук РАН.— , 1996-.— 0207-3528
№ 1.— 2012.— С. 77 |
|---|
| Other Authors: |
Углов В. В.,
Квасов Н. Т.,
Петухов Ю. А.,
Коваль Н. Н. Николай Николаевич,
Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович,
Тересов А. Д. |
|---|
| Summary: | Представлены результаты исследований структурно-фазового состояния приповерхностного слоя системы “покрытие хромакремниевая подложка”, обработанного низкоэнергетическими сильноточными электронными пучками длительностью 50200 мкс с плотностью энергии 15 Дж/см2. Данные растровой электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа и рентгеноспектрального микроанализа выявили образование легированного хромом слоя кремния толщиной 238 мкм, формирование обогащенных хромом кремниевых дендритов, дисилицида хрома CrSi2 и аморфного эвтектического слоя (характерный поперечный размер выделений обогащенной хромом фазы 50 нм). Структурно-фазовые превращения обсуждаются с учетом особенностей распределения температуры, диффузионного и конвективного массопереноса в модифицированном слое. |
|---|
| Language: | Russian |
|---|
| Published: |
2012
|
|---|
| Subjects: | |
|---|
| Format: | Book Chapter
|
|---|
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=562594 |
|---|
