Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

書誌詳細
第一著者:	Чернышев А. А. Александр Алексеевич
言語:	ロシア語
出版事項:	Москва, Радио и связь, 1988
主題:	Полупроводниковые приборы Интегральные схемы микроэлектронные электроника интегральные микросхемы надежность микроэлектронные схемы внешние воздействия механические воздействия климатические факторы агрессивные среды радиационные загрязнения изготовление испытания прогнозирование
フォーマット:	図書
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=56244

類似資料