|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
56244 |
| 005 |
20231101211606.0 |
| 010 |
|
|
|a 525600042X
|
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\59071
|
| 090 |
|
|
|a 56244
|
| 100 |
|
|
|a 20030925d1988 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a z 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
|f А. А. Чернышев
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c Радио и связь
|d 1988
|
| 215 |
|
|
|a 254 с.
|c ил.
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 249-252.
|
| 606 |
1 |
|
|a Полупроводниковые приборы
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50669
|9 69320
|
| 606 |
1 |
|
|a Интегральные схемы микроэлектронные
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\12776
|9 39496
|
| 610 |
1 |
|
|a электроника
|
| 610 |
1 |
|
|a интегральные микросхемы
|
| 610 |
1 |
|
|a надежность
|
| 610 |
1 |
|
|a микроэлектронные схемы
|
| 610 |
1 |
|
|a внешние воздействия
|
| 610 |
1 |
|
|a механические воздействия
|
| 610 |
1 |
|
|a климатические факторы
|
| 610 |
1 |
|
|a агрессивные среды
|
| 610 |
1 |
|
|a радиационные загрязнения
|
| 610 |
1 |
|
|a изготовление
|
| 610 |
1 |
|
|a испытания
|
| 610 |
1 |
|
|a прогнозирование
|
| 675 |
|
|
|a 621.382
|v 3
|
| 675 |
|
|
|a 621.382.049.77
|v 3
|
| 700 |
|
1 |
|a Чернышев
|b А. А.
|g Александр Алексеевич
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20030925
|g PSBO
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20211201
|g PSBO
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
