Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок
| Auteur principal: | Васичев Б. Н. Борис Никитович |
|---|---|
| Langue: | russe |
| Publié: |
Москва, Металлургия, 1977
|
| Sujets: | |
| Format: | Livre |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=55707 |
Documents similaires
Количественный электронно-зондовый микроанализ: пер. с англ.
Publié: (Москва, Мир, 1986)
Publié: (Москва, Мир, 1986)
Электронно-зондовый микроанализ в исследовании полимеров
par: Чалых А. Е. Анатолий Евгеньевич
Publié: (Москва, Наука, 1990)
par: Чалых А. Е. Анатолий Евгеньевич
Publié: (Москва, Наука, 1990)
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
par: Рид С. Дж. Б.
Publié: (Москва, Техносфера, 2008)
par: Рид С. Дж. Б.
Publié: (Москва, Техносфера, 2008)
Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов
Publié: (Новосибирск, Наука, 2000)
Publié: (Новосибирск, Наука, 2000)
Ч. 2; Восьмая Всесоюзная конференция по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению, 21-23 сентября 1982 г.
Publié: (1982)
Publié: (1982)
Изучение состава арсенопирита Наталкинского золоторудного месторождения методом рентгеноспектрального электронно-зондового микроанализа; Проблемы геологии и освоения недр; Т. 1
par: Татаринов В. В.
Publié: (2017)
par: Татаринов В. В.
Publié: (2017)
Электронно-зондовый микроанализ: пер. с англ.
par: Рид С.
Publié: (Москва, Мир, 1979)
par: Рид С.
Publié: (Москва, Мир, 1979)
Рентгено-спектральный электроннозондовый микроанализ
par: Батырев В. А. Вадим Алексеевич
Publié: (Москва, Металлургия, 1982)
par: Батырев В. А. Вадим Алексеевич
Publié: (Москва, Металлургия, 1982)
Распределение продуктов деления в облученном виброуплотненном оксидном топливе; Атомная энергия; Т. 99, вып. 5
Publié: (2005)
Publié: (2005)
Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов
par: Гимельфарб Ф. А. Феликс Аронович
Publié: (Москва, Металлургия, 1986)
par: Гимельфарб Ф. А. Феликс Аронович
Publié: (Москва, Металлургия, 1986)
Электронно-оптический микроанализ рудных минералов
Publié: (Алма-Ата, Наука, 1978)
Publié: (Алма-Ата, Наука, 1978)
Вып. 2; Приборы и методы физического металловедения
Publié: (1974)
Publié: (1974)
Применение электронно-зондовых приборов для изучения минерального вещества
par: Гаранин В. К. Виктор Константинович
Publié: (Москва, Недра, 1983)
par: Гаранин В. К. Виктор Константинович
Publié: (Москва, Недра, 1983)
Прикладная спектрометрия рентгеновского излучения: пер. с англ.
par: Вольдсет Р. Рольф
Publié: (Москва, Атомиздат, 1977)
par: Вольдсет Р. Рольф
Publié: (Москва, Атомиздат, 1977)
Рентгеноспектральный микроанализ ксенона в облученном топливе тепловых реакторов; Атомная энергия; Т. 100, вып. 2
Publié: (2006)
Publié: (2006)
Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
par: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Publié: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)
par: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Publié: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)
Микроструктурирование тонких пленок
Publié: (Москва, Наука, 1991)
Publié: (Москва, Наука, 1991)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
Publié: (Москва, Техносфера, 2009)
Publié: (Москва, Техносфера, 2009)
Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publié: (1984)
Publié: (1984)
Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publié: (1984)
Publié: (1984)
Электронно-ионные устройства для нанесения тонкопленочных покрытий
par: Белевский В. П. Владимир Петрович
Publié: (Киев, о-во "Знание" УССР, 1982)
par: Белевский В. П. Владимир Петрович
Publié: (Киев, о-во "Знание" УССР, 1982)
Стереометрическая металлография
par: Салтыков С. А. Саркис Андреевич
Publié: (Москва, Металлургия, 1970)
par: Салтыков С. А. Саркис Андреевич
Publié: (Москва, Металлургия, 1970)
Свойства и применение диэлектрических тонких пленок в технологиях микроэлектроники учебное пособие
par: Васильев В. Ю.
Publié: (Новосибирск, НГТУ, 2021)
par: Васильев В. Ю.
Publié: (Новосибирск, НГТУ, 2021)
Физико-химические методы исследования материалов. Состав, структура
par: Сенин А. В.
Publié: (Челябинск, ЮУрГУ, 2018)
par: Сенин А. В.
Publié: (Челябинск, ЮУрГУ, 2018)
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Publié: (Москва, Наука, 1982)
Publié: (Москва, Наука, 1982)
Магнитооптика тонких пленок
par: Звездин А. К. Анатолий Константинович
Publié: (Москва, Наука, 1988)
par: Звездин А. К. Анатолий Константинович
Publié: (Москва, Наука, 1988)
Вакуумное нанесение тонких пленок
par: Данилин Б. С. Борис Степанович
Publié: (Москва, Энергия, 1967)
par: Данилин Б. С. Борис Степанович
Publié: (Москва, Энергия, 1967)
Технология толстых и тонких пленок: пер. с англ.
Publié: (Москва, Мир, 1972)
Publié: (Москва, Мир, 1972)
Получение и свойства тонких пленок: сборник научных трудов
Publié: (Киев, Наукова думка, 1982)
Publié: (Киев, Наукова думка, 1982)
Метод Монте-Карло в рентгеноспектральном микроанализе
par: Афонин В. П. Валерий Петрович
Publié: (Новосибирск, Наука, 1989)
par: Афонин В. П. Валерий Петрович
Publié: (Новосибирск, Наука, 1989)
Т. 2; Технология тонких пленок
Publié: (1977)
Publié: (1977)
Т. 6; Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения
Publié: (1973)
Publié: (1973)
Т. 7; Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения
Publié: (1977)
Publié: (1977)
Химические методы получения тонких прозрачных пленок
par: Суйковская Н. В. Нина Владимировна
Publié: (Ленинград, Химия, 1971)
par: Суйковская Н. В. Нина Владимировна
Publié: (Ленинград, Химия, 1971)
Химия и технология тонких неорганических пленок: конспект лекций
par: Борисенко А. И. Анатолий Исидорович
Publié: (Ленинград, 1973)
par: Борисенко А. И. Анатолий Исидорович
Publié: (Ленинград, 1973)
Структурные превращения в тонких пленках
par: Иевлев В. М. Валентин Михайлович
Publié: (Москва, Металлургия, 1988)
par: Иевлев В. М. Валентин Михайлович
Publié: (Москва, Металлургия, 1988)
Коагуляция и динамика тонких пленок
par: Духин С. С. Станислав Самуилович
Publié: (Киев, Наукова думка, 1986)
par: Духин С. С. Станислав Самуилович
Publié: (Киев, Наукова думка, 1986)
Технология тонких пленок: практикум
par: Никулин Д. М.
Publié: (Новосибирск, СГУГиТ, 2023)
par: Никулин Д. М.
Publié: (Новосибирск, СГУГиТ, 2023)
Т. 8; Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения
Publié: (1978)
Publié: (1978)
Применение низкотемпературной плазмы для нанесения тонких пленок
par: Данилин Б. С. Борис Степанович
Publié: (Москва, Энергоатомиздат, 1989)
par: Данилин Б. С. Борис Степанович
Publié: (Москва, Энергоатомиздат, 1989)
Documents similaires
-
Количественный электронно-зондовый микроанализ: пер. с англ.
Publié: (Москва, Мир, 1986) -
Электронно-зондовый микроанализ в исследовании полимеров
par: Чалых А. Е. Анатолий Евгеньевич
Publié: (Москва, Наука, 1990) -
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
par: Рид С. Дж. Б.
Publié: (Москва, Техносфера, 2008) -
Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов
Publié: (Новосибирск, Наука, 2000) -
Ч. 2; Восьмая Всесоюзная конференция по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению, 21-23 сентября 1982 г.
Publié: (1982)