Применение обратного рассеяния электронов высокой энергии для контроля толщины или состава поверхностного слоя изделия; Дефектоскопия; № 6
| Parent link: | Дефектоскопия/ Российская академия наук ; Отделение физических наук РАН.— , 1965- № 6.— 1976.— С. 7-12 |
|---|---|
| Päätekijä: | |
| Muut tekijät: | |
| Kieli: | venäjä |
| Julkaistu: |
1976
|
| Sarja: | Радиационные методы |
| Aiheet: | |
| Aineistotyyppi: | Kirjan osa |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=543677 |