Применение обратного рассеяния электронов высокой энергии для контроля толщины или состава поверхностного слоя изделия
| Parent link: | Дефектоскопия/ Российская академия наук ; Отделение физических наук РАН.— , 1965- № 6.— 1976.— С. 7-12 |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| מחברים אחרים: | |
| שפה: | רוסית |
| יצא לאור: |
1976
|
| סדרה: | Радиационные методы |
| נושאים: | |
| פורמט: | Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=543677 |
| תיאור לא זמין. |