Text this: О применимости "атомных" и ядерных методов определения глубинных профилей концентрации элементов при исследовании процессов, индуцированных мощными ионными пучками; IV Всероссийская Конференция по модификации свойств конструкционных материалов пучками заряженных частиц, 13-17 мая 1996 года, г. Томск