• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Udvidet
  • Методы измерения параметров по...
  • Citér dette
  • Stav dette
  • Email dette
  • Udskriv
  • Eksportér post
    • Eksportér til RefWorks
    • Eksportér til EndNoteWeb
    • Eksportér til EndNote
  • Permanent link
Методы измерения параметров полупроводниковых материалов: учебник

Методы измерения параметров полупроводниковых материалов: учебник

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Павлов Л. П. Лев Павлович
Sprog:russisk
Udgivet: Москва, Высшая школа, 1987
Udgivelse:2-е изд., перераб. и доп.
Serier:Для вузов
Fag:
полупроводники
полупроводниковые материалы
параметры
измерения
удельное сопротивление
заряды
неравновесные носители
фотомагнитоэлектрический эффект
оптические методы
учебники
Format: Bog
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=53234
  • Beholdninger
  • Beskrivelse
  • Lignende værker
  • Medarbejdervisning
Beskrivelse
Fysisk beskrivelse:239 с. ил.

Lignende værker

  • Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие
    af: Павлов Л. П. Лев Павлович
    Udgivet: (Москва, Высшая школа, 1975)
  • Измерение параметров полупроводников материалов и структур
    af: Батавин В. В. Виталий Васильевич
    Udgivet: (Москва, Радио и связь, 1985)
  • Фотоэлектрические явления в полупроводниках
    af: Рывкин С. М. Соломон Меерович
    Udgivet: (Москва, Физматгиз, 1963)
  • Бесконтактный метод измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках; Приборы и техника эксперимента; № 3
    af: Радчук Н. Б.
    Udgivet: (2003)
  • Разработка и изготовление прибора для измерения времени жизни в полупроводниковых диодах: Отчет о НИР; Тема: № 105/70
    Udgivet: (Томск, 1973)