Применение метода вторичноионной масс-спектрометрии при исследовании диффузии в щелочно-галоидных кристаллах

Применение метода вторичноионной масс-спектрометрии при исследовании диффузии в щелочно-галоидных кристаллах

Bibliographic Details
Parent link:Современные техника и технологии: труды 4-й областной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых. Томск, 23-24 марта 1998 г/ ТПУ. С. 209-210..— , 1998
Main Author: Чернявский А. В. Александр Викторович
Other Authors: Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич
Language:Russian
Published: 1998
Subjects:
труды учёных ТПУ
Format: Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=50101

Similar Items

Similar Items