Применение метода вторичноионной масс-спектрометрии при исследовании диффузии в щелочно-галоидных кристаллах; Современные техника и технологии
| Parent link: | Современные техника и технологии.— 1998.— С. 209-210. |
|---|---|
| Autor Principal: | |
| Outros autores: | |
| Idioma: | ruso |
| Publicado: |
1998
|
| Subjects: | |
| Formato: | MixedMaterials Capítulo de libro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=50101 |