Применение метода вторичноионной масс-спектрометрии при исследовании диффузии в щелочно-галоидных кристаллах

Detalles Bibliográficos
Parent link:Современные техника и технологии: труды 4-й областной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых. Томск, 23-24 марта 1998 г/ ТПУ. С. 209-210..— , 1998
Autor Principal: Чернявский А. В. Александр Викторович
Outros autores: Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич
Idioma:ruso
Publicado: 1998
Subjects:
Formato: Capítulo de libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=50101

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 50101
005 20240215100037.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\52447 
035 |a RU\TPU\tpu\10903 
090 |a 50101 
100 |a 20030409d1998 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Применение метода вторичноионной масс-спектрометрии при исследовании диффузии в щелочно-галоидных кристаллах  |f А. В. Чернявский, С. А. Гынгазов 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\9322  |t Современные техника и технологии  |o труды 4-й областной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых. Томск, 23-24 марта 1998 г  |o Секция 4. Электромеханика. Электроматериаловедение.  |f ТПУ  |v С. 209-210.  |d 1998  |p 244с 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
675 |a 62.002(063)  |v 3 
700 1 |a Чернявский  |b А. В.  |c специалист в области электроники  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1966-  |g Александр Викторович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26556 
701 1 |a Гынгазов  |b С. А.  |c специалист в области электроники  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1958-  |g Сергей Анатольевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26531  |9 12225 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20030105  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160220  |g PSBO 
942 |c BK