Применение метода вторичноионной масс-спектрометрии при исследовании диффузии в щелочно-галоидных кристаллах; Современные техника и технологии
| Parent link: | Современные техника и технологии.— 1998.— С. 209-210. |
|---|---|
| Hlavní autor: | |
| Další autoři: | |
| Jazyk: | ruština |
| Vydáno: |
1998
|
| Témata: | |
| Médium: | Kapitola |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=50101 |
| Žádný popis. |