Модифицирование свойств циркониевой керамики сильноточным пучком низкоэнергетических электронов
| Parent link: | Перспективные материалы.— , 1996- № 4.— 2006.— С. 58-64 |
|---|---|
| Other Authors: | , , , , , |
| Summary: | Изучено влияние сильноточного импульсного пучка низкоэнергетических электронов (СИПНЭ) с плотностью энергии в импульсе W[и]=13,5 Дж/см{2} на приповерхностные слои частично стабилизированного диоксида циркония. Установлено, что при таком воздействии происходит образование сетки трещин, в результате чего структура поверхности приобретает фрагментарный характер со средним размером фрагмента 24 мкм. Обнаружено изменение фазового состава циркониевой керамики (ЦК), обусловленное переходом моноклинной фазы в тетрагональную, а также рост электропроводности приповерхностных слоев. Исследовано действие электронной обработки на микротвердость приповерхностных слоев керамики. Анализ результатов проведен с учетом вклада упругого восстановления отпечатка индентора в эффекты ее радиационного изменения. Установлено, что упругое восстановление отпечатка в модифицированном СИПНЭ приповерхностном слое протекает более эффективно. Учет этого фактора позволил выявить реальное влияние электронной обработки на микротвердость керамики |
| Published: |
2006
|
| Subjects: | |
| Format: | Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=493861 |
| Summary: | Изучено влияние сильноточного импульсного пучка низкоэнергетических электронов (СИПНЭ) с плотностью энергии в импульсе W[и]=13,5 Дж/см{2} на приповерхностные слои частично стабилизированного диоксида циркония. Установлено, что при таком воздействии происходит образование сетки трещин, в результате чего структура поверхности приобретает фрагментарный характер со средним размером фрагмента 24 мкм. Обнаружено изменение фазового состава циркониевой керамики (ЦК), обусловленное переходом моноклинной фазы в тетрагональную, а также рост электропроводности приповерхностных слоев. Исследовано действие электронной обработки на микротвердость приповерхностных слоев керамики. Анализ результатов проведен с учетом вклада упругого восстановления отпечатка индентора в эффекты ее радиационного изменения. Установлено, что упругое восстановление отпечатка в модифицированном СИПНЭ приповерхностном слое протекает более эффективно. Учет этого фактора позволил выявить реальное влияние электронной обработки на микротвердость керамики |
|---|