Измерение длины электронных сгустков на основе когерентного дифракционного излучения - Науменко Г. А. Геннадий Андреевич; Потылицын А. П. Александр Петрович; Шевелев М. В. Михаил Викторович; Попов Ю. А.; Сухих Л. Г. Леонид Григорьевич (2009, 2009)