Новые возможности вихретокового метода: исследование модификации свойств наводороженных металлов под действием ионизирующего излучения
| Parent link: | Вестник науки Сибири: электронный научный журнал/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2011-.— 2226-0064 № 3 (4).— 2012.— [С. 49-54] |
|---|---|
| Hoofdauteur: | |
| Andere auteurs: | , |
| Samenvatting: | Заглавие с титульного листа Поверхность легких сплавов на основе титана, циркония под действием ионизирующего облучения приобретает ряд свойств, относящихся к процессам их наводороживания. Показано, что в этом случае образуется пленка, препятствующая проникновению водорода в основной объем металла, возрастает микротвердость. При этом основной объем сплава сохраняет прежнюю структуру. Вместе с тем наводороживание ведет к возникновению микродефектов поверхностного слоя. Их свойства могут быть исследованы вихревыми токами на частотах от 10 КГц до 10 МГц. Активная и реактивная составляющие сопротивления вихревым токам позволяют получать дополняющую информацию о структуре поверхностной пленки. |
| Gepubliceerd in: |
2012
|
| Reeks: | Физика. Математика |
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/16056 |
| Formaat: | Elektronisch Hoofdstuk |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=479628 |
| Fysieke beschrijving: | 1 файл (553 Кб) |
|---|---|
| Samenvatting: | Заглавие с титульного листа Поверхность легких сплавов на основе титана, циркония под действием ионизирующего облучения приобретает ряд свойств, относящихся к процессам их наводороживания. Показано, что в этом случае образуется пленка, препятствующая проникновению водорода в основной объем металла, возрастает микротвердость. При этом основной объем сплава сохраняет прежнюю структуру. Вместе с тем наводороживание ведет к возникновению микродефектов поверхностного слоя. Их свойства могут быть исследованы вихревыми токами на частотах от 10 КГц до 10 МГц. Активная и реактивная составляющие сопротивления вихревым токам позволяют получать дополняющую информацию о структуре поверхностной пленки. |