Электронная микроскопия тонких кристаллов: пер. с англ.

Detalles Bibliográficos
Otros Autores:	Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М.
Lenguaje:	ruso
Publicado:	Москва, Мир, 1968
Materias:	Кристаллы > Спектроскопические исследования физика электронные микроскопы электроны дифракция электронограммы кристаллографические данные контраст микроскопия стереомикроскопия магнитные домены измерения неупругое рассеяние тонкие кристаллы
Formato:	Libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=44620

Ejemplares similares