MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 44620
005 20231101210907.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\46355 
090 |a 44620 
100 |a 20021125d1968 k y0rusy50 ca 
101 1 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Электронная микроскопия тонких кристаллов  |e пер. с англ.  |f П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон и др. 
210 |a Москва  |c Мир  |d 1968 
215 |a 574 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр. в конце глав. 
320 |a Предм. указ.:с. 561-568. 
606 1 |a Кристаллы  |x Спектроскопические исследования  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\16398  |9 42460 
610 1 |a физика 
610 1 |a электронные микроскопы 
610 1 |a электроны 
610 1 |a дифракция 
610 1 |a электронограммы 
610 1 |a кристаллографические данные 
610 1 |a контраст 
610 1 |a микроскопия 
610 1 |a стереомикроскопия 
610 1 |a магнитные домены 
610 1 |a измерения 
610 1 |a неупругое рассеяние 
610 1 |a тонкие кристаллы 
675 |a 548.75  |v 3 
701 1 |a Хирш  |b П. 
701 1 |a Хови  |b А. 
701 1 |a Николсон  |b Р. 
701 1 |a Пэшли  |b Д. 
701 1 |a Уэлан  |b М. 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20021125  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20220210  |g PSBO 
900 |a Методы исследования материалов и процессов 
942 |c BK