Электронная микроскопия тонких кристаллов: пер. с англ.

Bibliographic Details
Other Authors:	Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М.
Language:	Russian
Published:	Москва, Мир, 1968
Subjects:	Кристаллы > Спектроскопические исследования физика электронные микроскопы электроны дифракция электронограммы кристаллографические данные контраст микроскопия стереомикроскопия магнитные домены измерения неупругое рассеяние тонкие кристаллы
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=44620

Description
Physical Description:	574 с. ил.

Similar Items