Характеристическое и параметрическое рентгеновское излучение релятивистских заряженных частиц; Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования; № 3

Xehetasun bibliografikoak
Parent link:	Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования/ Российская академия наук (РАН) ; Отделение физических наук РАН.— , 1996- № 3.— 2006.— С. 13-18
Beste egile batzuk:	Адищев Ю. Н. Юрий Николаевич, Гоголев А. С. Алексей Сергеевич, Калинин Б. Н., Науменко Г. А. Геннадий Андреевич, Потылицын А. П. Александр Петрович
Gaia:	Измерена спектрально-угловая плотность параметрического рентгеновского излучения, генерируемого электронами с энергией 900 МэВ в кристалле германия для плоскостей (111) и (220) в сравнении с характеристическим рентгеновским излучением. Форма спектральной линии была измерена в независимом эксперименте с использованием эффекта поглощения GeK-края. Экспериментальные результаты удовлетворительно согласуются с расчетными, полученными на основе кинематической модели.
Hizkuntza:	errusiera
Argitaratua:	2006
Gaiak:	труды учёных ТПУ
Formatua:	Liburu kapitulua
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=445971

Deskribapena
Gaia:	Измерена спектрально-угловая плотность параметрического рентгеновского излучения, генерируемого электронами с энергией 900 МэВ в кристалле германия для плоскостей (111) и (220) в сравнении с характеристическим рентгеновским излучением. Форма спектральной линии была измерена в независимом эксперименте с использованием эффекта поглощения GeK-края. Экспериментальные результаты удовлетворительно согласуются с расчетными, полученными на основе кинематической модели.

Antzeko izenburuak