Методы исследования материалов

Bibliographic Details
Main Author: Газенаур Е. Г.
Other Authors: Кузьмина Л. В., Крашенинин В. И.
Summary:В настоящем пособии рассмотрены основы наиболее широко применяемых методов исследования функциональных материалов. В структуру учебного пособия включены контрольные вопросы и тестовые задания, описания лабораторных работ. Учебное пособие адресовано магистрантам химического факультета Кемеровского государственного университета, а также может быть полезно студентам химических и химико-технологических специальностей техникумов и вузов.
Книга из коллекции КемГУ - Химия
Published: Кемерово, КемГУ, 2013
Subjects:
Online Access:http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=44317
https://e.lanbook.com/img/cover/book/44317.jpg
Format: Electronic Book

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 i 4500
001 44317
010 |a 978-5-8353-1578-9 
100 |a 20200604d2013 k y0rusy01020304ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y j 000zy 
106 |a z 
200 1 |a Методы исследования материалов  |b Электронный ресурс  |f Газенаур Е. Г., Кузьмина Л. В., Крашенинин В. И. 
210 |a Кемерово  |b Кемерово  |c КемГУ  |d 2013 
215 |a 336 с. 
330 |a В настоящем пособии рассмотрены основы наиболее широко применяемых методов исследования функциональных материалов. В структуру учебного пособия включены контрольные вопросы и тестовые задания, описания лабораторных работ. Учебное пособие адресовано магистрантам химического факультета Кемеровского государственного университета, а также может быть полезно студентам химических и химико-технологических специальностей техникумов и вузов. 
333 |a Книга из коллекции КемГУ - Химия 
610 0 |a методы исследования материалов 
610 0 |a техника материаловедение спектральные методы абсорбционная спектроскопия рентгеновская спектроскопия радиоспектроскопические методы лазерная спектроскопия ядерная спектроскопия хроматографические методы анализа электрохимический анализ термический анализ микроскопический анализ световая микроскопия электронная микроскопия растровая электронная микроскопия сканирующие зондовые исследования сканирующая туннельная микроскопия атомно-силовая микроскопия магнитосиловая зондовая микроскопия электроскопические методы исследования магистранты учебные пособия высшее образование электронные ресурсы 
675 |a [542.8:546](075.8) 
686 |a Г52я73  |2 rubbk 
700 1 |a Газенаур  |b Е. Г. 
701 1 |a Кузьмина  |b Л. В. 
701 1 |a Крашенинин  |b В. И. 
801 1 |a RU  |b Издательство Лань  |c 20200604  |g RCR 
856 4 |u http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=44317 
856 4 1 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/44317.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/44317.jpg