Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Detaylı Bibliyografya
Yazar:	Корнилов В. М.
Diğer Yazarlar:	Галиев А. Ф.
Özet:	Цикл лабораторных работ «Основы сканирующей зондовой микроскопии» включает 6 работ, с применением современных методов исследования поверхности: туннельной и атомно-силовой микроскопии Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Инженерно-технические науки
Baskı/Yayın Bilgisi:	Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2011
Online Erişim:	http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=43260 https://e.lanbook.com/img/cover/book/43260.jpg
Materyal Türü:	Elektronik Kitap

Benzer Materyaller

Основы сканирующей зондовой микроскопии
Yazar:: Корнилов В. М.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2011)

Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие
Yazar:: Миронов В. Л.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Техносфера, 2004)

Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
Yazar:: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
Baskı/Yayın Bilgisi: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)

Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
Yazar:: Круглов А. В.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2022)

Особенности применения автодинных КВЧ модулей для сканирующей зондовой микроволновой микроскопии
Yazar:: Трубачев А. А. Анатолий Андреевич
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Методы зондовой микроскопии учебное пособие
Yazar:: Рыбин Н. Б.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Рязань, РГРТУ, 2014)

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов
Yazar:: Набиуллин И. Р.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2016)

Исследование поверхности наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии методические указания к выполнению лабораторной работы по курсу «Отрасли наноиндустрии. Области применения наноматериалов» для магистрантов, обучающихся по направлению150600 «Материаловедение и технология новых материалов»
Yazar:: Годымчук А. Ю. Анна Юрьевна
Baskı/Yayın Bilgisi: (Томск, Изд-во ТПУ, 2010)

Изучение крови человека с использованием сканирующей электронной микроскопии
Yazar:: Дементьева А. В.
Baskı/Yayın Bilgisi: (2018)

Определение глинистых минералов методами сканирующей электронной микроскопии и рентгеноструктурного микроанализа
Yazar:: Данг Т. Ф. Т.
Baskı/Yayın Bilgisi: (2016)

Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие
Yazar:: Николичев Д. Е.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2011)

Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
Yazar:: Елманов Г. Н.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, НИЯУ МИФИ, 2011)

Влияние фторидного выщелачивания на фазовый состав титаномагнетитовой руды: данные сканирующей электронной микроскопии
Baskı/Yayın Bilgisi: (2023)

Количественная характеристика ультрамелкозернистой структуры стали 12ГБА с помощью сканирующей туннельной микроскопии
Baskı/Yayın Bilgisi: (2016)

Устройство для зондовой диагностики плазмы
Baskı/Yayın Bilgisi: ()

Устройство для зондовой диагностики плазмы
Baskı/Yayın Bilgisi: (1976)

Исследование модифицированной ионными пучками керамики Al2O3 методом сканирующей электронной микроскопии
Yazar:: Костенко В. А. Валерия Александровна
Baskı/Yayın Bilgisi: (2019)

Изучение процесса окисления на поверхности Pt3Ti (510) методом сканирующей туннельной микроскопии
Yazar:: Курзина И. А.
Baskı/Yayın Bilgisi: (2005)

Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Основы электронной микроскопии учебное пособие для вузов
Yazar:: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Baskı/Yayın Bilgisi: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)

Основы электронной микроскопии учебное пособие для вузов
Yazar:: Морозова К. Н. Ксения Николаевна
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Юрайт, 2022)

Основы электронной микроскопии учебное пособие для вузов
Yazar:: Морозова К. Н. Ксения Николаевна
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Юрайт, 2021)

Основы просвечивающей электронной микроскопии пер. с англ.
Yazar:: Хейденрайх Р.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Мир, 1966)

Основы аналитической электронной микроскопии пер. с англ.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Металлургия, 1990)

Практика тепловой микроскопии
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Наука, 1976)

Успехи современной микроскопии
Yazar:: Гайдуков Н.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Харьков, Типография "Мирный Труд", 1910)

Исследование апертурных функций сканирующей системы томографа COMSCAN
Yazar:: Никитина О. П.
Baskı/Yayın Bilgisi: (2004)

Исследование электрофизических свойств индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок с примесями и дефектами методами сканирующей силовой микроскопии автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук спец. 1.3.8
Yazar:: Соколов Д. В. Денис Витальевич
Baskı/Yayın Bilgisi: (Томск, [Б. и.], 2022)

Метод оптической микроскопии в исследовании эффективности деэмульгатора водонефтяных эмульсий
Yazar:: Пащенко А. П.
Baskı/Yayın Bilgisi: ()

Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии
Yazar:: Стоянова И. Г. Инна Григорьевна
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Наука, 1972)

Применение деструктивной сканирующей радиографии для диагностики поверхностного слоя
Yazar:: Ермолаев В. А.
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)

Разработка сканирующей системы для комптоновского томографа COM SCAN
Yazar:: Коновалов Н. В.
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)

Методы электронной микроскопии учебное пособие
Yazar:: Филимонова Н. И.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Новосибирск, СибГУТИ, 2016)

Закон движения сканатора асинхронной сканирующей системы разночастотного питания
Yazar:: Зиновьев Г. Г.
Baskı/Yayın Bilgisi: (1981)

Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии учебное пособие
Yazar:: Валянский С. И. Сергей Иванович
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Изд-во МИСиС, 2011)

Техника электронной микроскопии пер. с англ.
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Мир, 1965)

Методика электронной микроскопии пер. с нем.
Yazar:: Шиммель Г. Герхард
Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Мир, 1972)

Метод атомно-силовой микроскопии для исследования поверхности анодированного оксида алюминия
Yazar:: Пань Мэнхуа
Baskı/Yayın Bilgisi: (2021)

Поверхностное упрочнение титановых сплавов путем сканирующей электронно-пучковой обработки
Baskı/Yayın Bilgisi: (2018)

Техника микроскопии биологических клеток учебное пособие
Baskı/Yayın Bilgisi: (Томск, Изд-во ТПУ, 2009)