Неразрушающий метод локального измерения диэлектрических потерь подложек интегральных схем на СВЧ; Дефектоскопия; № 8

Библиографические подробности
Источник:	Дефектоскопия.— , 1965-.— 0130-3082 № 8.— 2005.— С. 84-92
Главный автор:	Дувинг В. Г.
Язык:	русский
Опубликовано:	2005
Серии:	Радиационные и другие методы
Предметы:	СВЧ локальные измерения неразрушающий контроль диэлектрические потери интегральные схемы подложки пленочные материалы расчетные формулы
Формат:	Статья
Запись в KOHA:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=428799

Описание
Недоступно описание.

Схожие документы