MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 428539
005 20231101074837.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\prd\88103 
035 |a RU\TPU\prd\24025 
090 |a 428539 
100 |a 20101014a2004 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Микропроцессорная многомодульная тензометрическая система  |f А. Н. Серьезнов [и др.] 
225 1 |a Радиационные, оптические и другие методы 
320 |a Библиогр.: 3 назв. 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\prd\151  |t Дефектоскопия  |d 1965- 
463 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\prd\88092  |t № 1  |v С. 82-87  |d 2004 
610 1 |a информайионно-измерительные системы 
610 1 |a теплопрочностные испытания 
610 1 |a тензометрический метод 
610 1 |a прогнозирование 
610 1 |a объекты контроля 
675 |a 629.7.018  |v 3 
701 1 |a Серьезнов  |b А. Н. 
701 1 |a Степанова  |b Л. Н. 
701 1 |a Кожемякин  |b В. Л. 
701 1 |a Лебедев  |b Е. Ю. 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20040317  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20131018  |g RCR 
942 |c BK